Alteración por Evento Único (SEU)

Un cambio de estado lógico transitorio y no destructivo en una celda de memoria o elemento lógico digital provocado por una sola partícula energética (ión cargado, protón, neutrón o ionización secundaria) que deposita suficiente carga para superar la carga crítica del nodo; la estructura física del dispositivo permanece funcional salvo otros daños.