Single‑Event‑Upset (SEU)

Eine vorübergehende, nicht‑destruktive Änderung des logischen Zustands in einer digitalen Speicherzelle oder Logikelement, verursacht durch ein einzelnes energiereiches Teilchen (geladenes Ion, Proton, Neutron oder sekundäre Ionisation), das ausreichend Ladung an einem sensiblen Knoten deponiert, um die kritische Ladung zu überschreiten; die physikalische Geräte­struktur bleibt intakt, sofern kein