Latch‑Up por Evento Único (SEL)

Una condición provocada por radiación en un dispositivo semiconductor en la que se activa una estructura tirística parasitaria (PNPN), generando una vía de conducción autosostenida de alta corriente entre las líneas de alimentación; sin una retirada o limitación rápida de la corriente puede causar daños térmicos o fallo permanente.