Cristallographie par Rayons X

Méthode structurale qui détermine l'arrangement atomique dans des matériaux cristallins en mesurant le motif de diffraction produit lorsque des rayons X diffusent sur les densités électroniques d'un réseau périodique et en interprétant ce motif pour obtenir une carte de densité électronique et un modèle atomique.