Einzelereignis-Bitfehler (SEU)

Eine nicht-destruktive, transiente Zustandsänderung in einer digitalen Schaltung oder Speicherzelle, verursacht durch die Ladung, die von einer einzelnen ionisierenden Teilchenspur abgegeben wird; der Upset kippt ein oder mehrere Bits, beschädigt die Bauteilstruktur aber nicht dauerhaft.